原子力顯微鏡，簡稱AFM，是一種能夠研究物體表面結(jié)構(gòu)的分析儀器，主要是通過對檢測對象的表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來對物體的結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入的研究。通過原子力顯微鏡掃描下的物體，能夠以納米級的分辨率來對物體的表面結(jié)構(gòu)進(jìn)行細(xì)化的分析與研究。 

 

原子力顯微鏡在一定程度上彌補(bǔ)了普通掃描顯微鏡的缺陷，并且提高了檢測的分辨率，使得物體的性質(zhì)能夠得到了更加細(xì)化的分析，能夠有效的對生物大分子進(jìn)行分析研究，尤其是核酸以及蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)的研究，有著重要作用，因而在生物領(lǐng)域有著極其廣泛的應(yīng)用。但是相比較于傳統(tǒng)的掃描顯微鏡，原子力顯微鏡的缺點(diǎn)就是成像的范圍比較小，并且速度不快，在一定程度上受到了檢測探頭方面的限制。

 

AFM在高分子材料中的常見用途：

 

（1）觀察膜表面的形貌和相分離，研究高聚物表面性能：比如表征材料表面粗糙度，研究共混物相分離”海島“結(jié)構(gòu)，測量材料表面的納米摩擦力。

 

（2）分析高聚物結(jié)晶形態(tài)，研究水膠乳成膜過程。

 

（3）研究單鏈高分子結(jié)構(gòu)，表征高分子鏈構(gòu)象，研究高分子單鏈性能。

 

（4）研究高聚物與納米顆粒的相互作用。